CONDUCTIONELECTRONSPIN RESONANCE LINEWIDTH DUE TO EDGE DISLOCATIONS

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dc.contributor.authorHELMAN, JS
dc.contributor.authorCONTRERAS, DA
dc.date.accessioned2026-05-28T16:54:59Z
dc.date.issued1978
dc.description.paginacion3493 - 3496
dc.description.procedenciaEXT
dc.format.discursoArtículo
dc.format.extent4
dc.identifier.issn0163-1829
dc.identifier.urihttps://ahcm.cinvestav.mx/handle/ahcm/29885
dc.language.isoInglés
dc.numero.secuencia29882
dc.publisherINST POLITECN NACL,CTR INVEST & ESTUD AVANZADOS,MEXICO CITY 14,MEXICO
dc.relation.ispartofseriesVol. 16 No. 8
dc.source.revistafuentePHYSICAL REVIEW B
dc.subjectCONDUCTION, ELECTRON, SPIN, RESONANCE, LINEWIDTH DUE, EDGE, DISLOCATIONS
dc.subject.categoriaprincipalMULTIDISCIPLINARIA
dc.subject.disciplinaFISICA ATOMICA NUCLEAR
dc.subject.subdisciplinaRESONANCIA PARAMAGNETICA ELECTRONICA
dc.titleCONDUCTIONELECTRONSPIN RESONANCE LINEWIDTH DUE TO EDGE DISLOCATIONS
dc.title.alternativePHYTOCHEMISTRY

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